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首頁(yè) >玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司> 技術(shù)文章> OPTM 系列是日本大冢電子OTSUKA旗艦級(jí)顯微分光膜厚儀也常稱顯微薄膜厚度計(jì)玉崎科學(xué)儀器原裝現(xiàn)貨
OPTM 系列是日本大冢電子OTSUKA旗艦級(jí)顯微分光膜厚儀也常稱顯微薄膜厚度計(jì)玉崎科學(xué)儀器原裝現(xiàn)貨
2026/03/20 17:26:22
OPTM 系列是日本大冢電子 (OTSUKA) 旗艦級(jí)顯微分光膜厚儀(也常稱顯微薄膜厚度計(jì)),主打微區(qū)、納米級(jí)精度、高層數(shù)、高速測(cè)量,是半導(dǎo)體、*顯示、光學(xué)鍍膜研發(fā)與質(zhì)控的高端設(shè)備大塚電子(蘇州)有限公司。

一、核心型號(hào)與參數(shù)(2026 *)
測(cè)量原理:顯微分光干涉法 / *反射率測(cè)量
核心優(yōu)勢(shì):*小光斑 3μm、1 秒 / 點(diǎn)、*多 50 層膜、透明基板可測(cè)大塚電子(蘇州)有限公司
表格
| 型號(hào) | 波長(zhǎng)范圍 | 膜厚范圍 (SiO?) | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|---|
| OPTM-A1 (標(biāo)準(zhǔn) UV) | 230~800 nm | 1 nm~35 μm | 薄膜、半導(dǎo)體氧化膜 / 光刻膠大塚電子(蘇州)有限公司 |
| OPTM-A2 (可見(jiàn)光) | 360~1100 nm | 7 nm~49 μm | 通用光學(xué)膜、顯示 ITO/OLED大塚電子(蘇州)有限公司 |
| OPTM-A3 (近紅外) | 900~1600 nm | 16 nm~92 μm | 厚膜、SiC/GaN、樹脂涂層大塚電子(蘇州)有限公司 |
二、關(guān)鍵技術(shù)特性
- 微區(qū)測(cè)量:光斑 Φ3~40 μm 可選,測(cè)微小點(diǎn) / 線 / 陣列
- 高精度:重復(fù)性 ±0.1 nm 級(jí),精度媲美橢偏儀
- 多層解析:*多 50 層薄膜結(jié)構(gòu),同時(shí)測(cè) n, k 光學(xué)常數(shù)大塚電子(蘇州)有限公司
- 透明基板:反射物鏡,消除玻璃 / 石英背面反射干擾大塚電子(蘇州)有限公司
- 高速 Mapping:自動(dòng) XY 平臺(tái),支持面內(nèi)均勻性分布成像
- 軟件友好:初學(xué)者模式,一鍵擬合,無(wú)需復(fù)雜建模大塚電子(蘇州)有限公司
三、規(guī)格(A1 標(biāo)準(zhǔn)型)
- 測(cè)量時(shí)間:≤1 秒 / 點(diǎn)大塚電子(蘇州)有限公司
- 樣品臺(tái):自動(dòng) XY (200×200 mm),Z 軸自動(dòng)對(duì)焦
- 尺寸 / 重量:556×566×618 mm / 66 kg
- 電源:AC 100–240 V, 500 VA
四、價(jià)格參考(2026 年,深圳)
- OPTM-A1 (標(biāo)準(zhǔn)):¥380,000~450,000
- OPTM-A2 (擴(kuò)展):¥420,000~480,000
- OPTM-A3 (NIR):¥480,000~550,000
- 貨期:日本原裝,10–14 周
五、典型應(yīng)用
- 半導(dǎo)體:Gate 氧化膜、High-k 膜、光刻膠、鈍化膜、SiC 外延
- *顯示:Micro-OLED、量子點(diǎn)膜、觸控導(dǎo)電膜、偏光片
- 光學(xué) / 光通訊:AR/VR 鍍膜、濾光片、波導(dǎo)、DLC、增透膜
- *材料:柔性基板、PI 膜、抗指紋涂層、功能性薄膜

