日本帝通電子Teitsu超聲波測(cè)厚儀UDM-960維修|啟航檢測(cè)科技(上海）有限公司現(xiàn)貨優(yōu)惠價(jià)供應(yīng)

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一臺(tái)、抵3臺(tái)的功能

B-B，S-B，T-B和3種測(cè)量方式標(biāo)準(zhǔn)裝備。所以根據(jù)用途廣泛的測(cè)定。

曲面測(cè)量

曲面的測(cè)量頻道B-Bp（pipe）裝備。

易懂的大型面液晶顯示

大型液晶顯示EL背光燈附著，暗的地方也可以看見(jiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)。

小型精密測(cè)量

小型、輕量的口袋型一邊1/1000毫米單位的精密測(cè)量，能幫助您材料和產(chǎn)品及設(shè)備的高精度測(cè)量。

對(duì)應(yīng)廣泛的材質(zhì)

500～19999 m/sec和廣泛的音速可以設(shè)定，金屬、塑料陶瓷等，廣泛的材質(zhì)的測(cè)量對(duì)應(yīng)。

用途：

（1）原子力·航空機(jī)、汽車配件等高精度被要求材料或產(chǎn)品的厚度測(cè)量

（2）石油和化學(xué)計(jì)劃卜等的薄型管的精密厚度測(cè)量

（3）高精度平板玻璃、玻璃管等玻璃制品及陶瓷產(chǎn)品和材料的精密厚度測(cè)量

（4）食品、藥品等金屬、玻璃、塑料容器和陶瓷等精密厚度測(cè)量

（5）其他，一般的金屬產(chǎn)品等的精密厚度測(cè)量

UDM-550V

UDM-550DL

UDM-750

UDM-750DL

UDM-960

UDM-580DL

UDM-570DL

UDM-710A

UDM-720

UDM-1200

UDM-1100

UDM-1100DL

UDM-1300

UDM-1300DL

UDM-2001

UDM-580

UFD-2034

UDM-1400

產(chǎn)品介紹：

B5G6N.

B10G6N.

B5S6N.

B10S6N

該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備厚度測(cè)量方法的要求而設(shè)計(jì)，適用于鍋爐、壓力容器筒體、封頭、接管及堆焊層等厚度的超聲測(cè)量，也適用于壓力管道厚度的超聲測(cè)量。

超聲測(cè)厚試塊A和B是依據(jù)NB/T47013-2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)中承壓設(shè)備厚度測(cè)量方法的要求而設(shè)計(jì)的。它們適用于鍋爐、壓力容器筒體、封頭、接管及堆焊層等厚度的超聲測(cè)量，也適用于壓力管道厚度的超聲測(cè)量。以下是關(guān)于它們的測(cè)試方法：

• 數(shù)字式測(cè)厚儀的校準(zhǔn)：采用階梯試塊，分別在厚度接近待測(cè)厚度的*值和待測(cè)厚度的*小值（或待測(cè)厚度*值的1/2）的試塊上進(jìn)行校準(zhǔn)。將探頭置于較厚的試塊上，調(diào)整“聲速校準(zhǔn)”旋鈕，使測(cè)厚儀顯示度數(shù)接近已知值；將探頭置于較薄的試塊上，調(diào)整“零位校準(zhǔn)”旋鈕，使測(cè)厚儀顯示度數(shù)接近已知值。反復(fù)調(diào)整，使量程的高低兩端都得到正確度數(shù)。若已知材料聲速，則可預(yù)先調(diào)好聲速值，然后在儀器附帶的試塊上，調(diào)節(jié)“零位校準(zhǔn)”旋鈕，使儀器顯示為試塊厚度。

• 超聲檢測(cè)儀的校準(zhǔn)：采用階梯試塊，分別在厚度接近待測(cè)厚度的*值和待測(cè)厚度的*小值（或待測(cè)厚度*值的1/2）的試塊上進(jìn)行校準(zhǔn)。將探頭置于試塊上，使超聲檢測(cè)儀顯示出試塊的厚度值，通過(guò)調(diào)整超聲檢測(cè)儀的相關(guān)參數(shù)，如增益、聲速等，使超聲檢測(cè)儀的測(cè)量值與試塊的實(shí)際厚度值相符。

超聲測(cè)厚試塊A和B的具體尺寸和形狀有所差異，但它們的基本功能和使用方法是相同的。

測(cè)試方法：（1）數(shù)字式測(cè)厚儀的校準(zhǔn)：

采用階梯試塊，分別在厚度接近待測(cè)厚度的額*值和待測(cè)厚度的*小值（或待測(cè)厚度*值得1/2）的試塊上進(jìn)行校準(zhǔn)；

將探頭置于較厚的試塊上，調(diào)整“聲速校準(zhǔn)”旋鈕，使測(cè)厚儀顯示度數(shù)接近已知值；

將探頭置于較薄的試塊上，調(diào)整“零位校準(zhǔn)”旋鈕，使測(cè)厚儀顯示度數(shù)接近已知值；

反復(fù)調(diào)整，使量程的高低兩端都得到正確度數(shù)；

若已知材料聲速，則可預(yù)先調(diào)好聲速值，然后在儀器附帶的試塊上，調(diào)節(jié)“零位校準(zhǔn)”旋鈕，使儀器顯示為試塊厚度。

（2）超聲檢測(cè)儀的校準(zhǔn)：

a) 采用階梯試塊，分別在厚度接近待測(cè)厚度的額*值和待測(cè)厚度的*小值（或待測(cè)厚度*值得1/2）的試塊上進(jìn)行校準(zhǔn)；

b) 將探頭置于較厚的試塊上，調(diào)整“深度范圍”旋鈕，直到底面回波出現(xiàn)在相應(yīng)刻度位置上；

c）將探頭置于較薄的試塊上，調(diào)整“掃描延時(shí)”旋鈕，直到底面回波出現(xiàn)在相應(yīng)刻度位置上；

d）反復(fù)調(diào)整，直到厚薄試塊上的底波均出現(xiàn)在正確的刻度位置上；

e）當(dāng)待測(cè)工件厚度較大時(shí)，應(yīng)調(diào)節(jié)儀器使試塊的多次底波范圍過(guò)工件厚度值，并用多次底波來(lái)調(diào)節(jié)儀器。

階梯平底試塊依據(jù)NB/T47013-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，適用于用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的板材，還可用來(lái)制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。

階梯平底試塊（CBI試塊）是依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，用于超聲檢測(cè)的一種對(duì)比試塊，在承壓設(shè)備板材超聲檢測(cè)等方面有重要作用。以下是具體介紹：

• 適用范圍：根據(jù)NB/T 47013.3-2023《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)》，CBI試塊適用于用雙晶直探頭檢測(cè)厚度6mm - 20mm的承壓設(shè)備用板材。

• 結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：CBI試塊為階梯狀，帶有平底孔。其參考反射體為φ5mm平底孔，且反射體個(gè)數(shù)至少為3個(gè)。這樣的設(shè)計(jì)便于通過(guò)不同階梯位置的平底孔反射波，來(lái)校準(zhǔn)和評(píng)估超聲檢測(cè)設(shè)備在不同厚度下的檢測(cè)性能。

• 使用方法：在檢測(cè)時(shí)，將雙晶直探頭置于試塊上，通過(guò)試塊上的平底孔反射波來(lái)調(diào)整儀器的靈敏度等參數(shù)。例如，用與工件等厚部位試塊的*次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。也可用被檢板材無(wú)缺陷完好部位調(diào)節(jié)，用被檢板材的*次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。通過(guò)CBI試塊校準(zhǔn)后的超聲檢測(cè)設(shè)備，可用于對(duì)相應(yīng)厚度范圍的板材進(jìn)行超聲檢測(cè)，以發(fā)現(xiàn)板材中的缺陷等問(wèn)題。

測(cè)試方法：（1）選擇與檢測(cè)板等厚或大于檢測(cè)板厚的階梯，將探頭置于所選擇的的臺(tái)階上，調(diào)節(jié)儀器是*次底波調(diào)整至滿刻度的50%，在提高10dB，作為基準(zhǔn)靈敏度，在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上再增益6dB作為檢測(cè)靈敏度。

（2）此試塊還可用來(lái)制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖1中a位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為*點(diǎn)。探頭置于示意圖1中b位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖1中c位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。以此類推記錄探頭有效檢測(cè)范圍內(nèi)所有點(diǎn)，將以上各點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的雙晶直探頭距離波幅特性曲線。