CSK-IB型試塊是依據(jù)GB/T11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷標準的試塊。具體介紹如下：

• 特點：CSK-IB試塊在CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。

• 用途

• 測定斜探頭的入射點和前沿長度：利用半徑R100mm曲面，將探頭置于曲面上移動，可測定斜探頭的入射點和前沿長度。

• 測定斜探頭的折射角：利用Φ50和1.5mm圓孔，通過測量反射波的角度和位置，可計算出斜探頭的折射角。

• 測定斜探頭聲束軸線的偏離情況：利用試塊直角邊，將探頭靠近直角邊進行檢測，可判斷斜探頭聲束軸線是否偏離。

• 測定探傷儀的性能：利用25mm厚度測定探傷儀水平線、垂直線和動態(tài)范圍，評估探傷儀的準確性和穩(wěn)定性。

• 調(diào)整探測范圍和掃描速度：利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。

• 測定斜探頭分辨力：利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個臺階孔，觀察不同孔徑反射波的分離情況，測定斜探頭分辨力。

帶把階梯試塊的形狀和各部尺寸如圖1-8所示。它具由不同深度的臺階形狀，主要用于測定0°探頭（即直探頭）的距離幅度特性。